Другие журналы

Ремез Людмила Михайловна

Анализ влияния технологических параметров процесса импульсного лазерного осаждения на физико-морфологические свойства тонких пленок
Молодежный научно-технический вестник # 05, май 2015
УДК: 539.234
В данной статье рассматривается процесс импульсного лазерного осаждения на примере технологического оборудования НаноФАБ-100. Приведено описание устройства модуля PLD.Проведен анализ наиболее значимых параметров и исследовано их влияние на свойства пленок: выбор режима лазерного излучения для получения необходимых свойств, влияние температуры подложки на скорость роста и структуру пленок, необходимость задания движения сканатора, мишени и подложки для равномерного нанесения пленок по всей площади подложки и равномерного использования мишени, влияние расстояния подложка-мишень на производительность и чистоту поверхности, возможность  подачи газов для получения новых структур в процессе осаждения.
Получение псевдообъемных букв на пластике методом лазерной маркировки
Молодежный научно-технический вестник # 05, май 2015
УДК: 621.373.826
В данной статье приведено описание процесса изучения нового визуального эффекта «псевдообъемных букв», выявленного в процессе лазерной маркировки пластика. Эксперименты проводились с использованием  волоконного оптического маркера модели MARS 20J. В статье приведено описание проводимых экпериментов с фотографиями полученных изображений, а также показаны таблицы и графики, отражающие результаты экспериментов. На основании проведенных исследований  были сделаны выводы о существовании оптимальных режимов лазерной обработки пластиков, при которых наиболее качественно проявляется визуальный эффект «псевдообъемных букв».
Обзор методов измерения толщин термоэлектрических нанопленок
Молодежный научно-технический вестник # 05, май 2014
УДК: 53.083
В данной статье рассмотрены методы, наиболее подходящие для измерения толщин термоэлектрических тонких пленок. Изучены основные принципы методов, их достоинства и недостатки. Наиболее подходящим признан метод атомно-силовой микроскопии. Данным методом были проведены измерения 3 образцов тонких пленок, в результате которых были получены морфологические параметры пленок с удовлетворительной точностью. Толщины пленок исследованных образцов составили от 74 до 230 нм.
 
ПОИСК
 
elibrary crossref ulrichsweb neicon rusycon
 
ЮБИЛЕИ
ФОТОРЕПОРТАЖИ
 
СОБЫТИЯ
 
НОВОСТНАЯ ЛЕНТА



Авторы
Пресс-релизы
Библиотека
Конференции
Выставки
О проекте
Rambler's Top100
Телефон: +7 (915) 336-07-65 (строго: среда; пятница c 11-00 до 17-00)
  RSS
© 2003-2020 «Наука и образование»
Перепечатка материалов журнала без согласования с редакцией запрещена
 Тел.: +7 (915) 336-07-65 (строго: среда; пятница c 11-00 до 17-00)