Другие журналы

Щербина Антон Алексеевич

77-48211/447722 Динамический интерферометр для контроля профилей оптических поверхностей нанометрового уровня
Молодежный научно-технический вестник # 07, июль 2012
Проведен анализ существующих методов контроля качества оптических поверхностей и предложено схемотехнического решения по созданию динамического интерферометра, предназначенного для контроля качества поверхностей оптических деталей нанометрового уровня. Предложенный метод позволяет построить функциональную схему на базе электрооптического модулятора.
 
ПОИСК
 
elibrary crossref ulrichsweb neicon rusycon
 
ЮБИЛЕИ
ФОТОРЕПОРТАЖИ
 
СОБЫТИЯ
 
НОВОСТНАЯ ЛЕНТА



Авторы
Пресс-релизы
Библиотека
Конференции
Выставки
О проекте
Rambler's Top100
Телефон: +7 (915) 336-07-65 (строго: среда; пятница c 11-00 до 17-00)
  RSS
© 2003-2019 «Наука и образование»
Перепечатка материалов журнала без согласования с редакцией запрещена
 Тел.: +7 (915) 336-07-65 (строго: среда; пятница c 11-00 до 17-00)